HIOKI IM7585 インピーダンスアナライザー
具有0.5ms的測試速度
0.07%變率
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測量模式 |
LCR (LCR測試), 分析 (掃皮測量), 連續測量 |
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測量參數 |
Z, Y, θ, Rs (ESR), Rp, X, G, B, Cs, Cp, Ls, Lp, D (tanδ), Q |
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精度保證範圍 |
100 mΩ〜5 kΩ |
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顯示範圍 |
Z: 0.00m〜9.99999 GΩ / Rs, Rp, X: ± (0.00 m〜9.99999 GΩ) |
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基本精度 |
Z: ±0.65 % rdg. θ: ±0.38° |
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測定頻率 |
1 MHz〜1.3 GHz (設定解析度100 kHz) |
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測量信號電頻 |
功率 (dBm)模式: -40.0 dBm〜 +1.0 dBm |
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輸出阻抗 |
50 Ω (10 MHz時) |
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顯示 |
彩色TFT 8.4 英吋, 觸控面板 |
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測量時間 |
最快0.5 ms ( 快, 模擬測量時間, 代表値) |
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功能 |
接觸檢查, 比較器, BIN判定 (分類機能), 面板讀取保存・ 儲存機能, 等效電路分析, 相關補償 |
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接口 |
EXT I/O (處理器), USB通訊, LAN無線網路RS-232C (選購), GP-IB (選購) |
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電源 |
AC 100〜240 V, 50/60 Hz, 70 VA max |
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體積和重量 |
主機: 215W × 200H × 348D mm, 8.0 kg |
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附品 |
測試頭×1, 電源線 ×1, 說明書 ×1, CD-R (通信使用說明書) ×1, 電源線 ×1 |
■ 1MHz ~ 1.3GHz 測試源頻率。
■ 最快測試速度0.5msec (模擬測量時間) 。
■ 0.07%測量值變化(當測量1GHz時)。
■ ±0.65% rdg. 基本精度。
■ 輕巧,節省空間的測試投。
■ 全面接觸檢查(通過DCR檢測,高阻阻斷或波形判斷)。
■ 在測量分析儀模式頻率掃描,水平掃描和時間間隔。